Laboratórne zariadenie je určené pre nový, efektívny a inovatívny výskum, vývoj a produkciu nano/mikro kompozitných keramických a kovových materiálov pripravených z práškov metódou spekania za prítomnosti plazmy - Spark Plasma Sintering.
Technológie a zariadenia pre prípravu materiálov
Zariadenie, ktoré poskytuje možnosť výroby kontinuálnych náhodných alebo usporiadaných vlákenných vrstiev s rôznou plošnou hustotou a rôznymi priemermi vlákien. Umožňuje zvláknenie širokého spektra materiálov (rôznych druhov polymérov, vrátane biomateriálov) s použitím rôznych podkladových substrátov. Elektronické riadenie rýchlosti otáčania vretena regulovateľná max. do 4200 ot./min.
Rezonančné akustické miešanie je technológia využívajúca nízkofrekvenčnú akustickú energiu s vysokou intenzitou na miešanie práškových, kvapalných materiálov. Miešanie je neinvazívne, tvar a veľkosť prachových častíc nie je ovplyvnená miešaním. Miešaná zmes nie je kontaminovaná oterom materiálu miešacích elementov.
Zariadenie je určené na spekanie a syntézu materiálov rôzneho druhu ako napríklad ferity, elektrokeramika, konštrukčná keramika, kompozity s kovovou, alebo keramickou matricou, práškové kovy a ďalšie tvarovaním a lisovaním pripravené materiály. Najväčšou výhodou mikrovlnného ohrevu je skrátenie času potrebného na spekanie, úspora procesných plynov a energie.
Elektrická pec s SiC výhrevným telesom do Tmax.
Prečítajte si tiež: Montáž rektifikačných terčov
PVD technológie pre pokročilé povlaky
Zariadenia sú vybavené najnovšími iPVD technológiami na prípravu tvrdých, supertvrdých a prípadne aj funkčnými povlakov na báze jedno- a viackomponentných systémov, vrátane nanokompozitných, multivrstvových a gradientných povlakov, pre strojárske a iné aplikácie na báze HiPIMS (High Power Impulse Magnetron Sputtering) - magnetrónového naprašovania vysokoenergetickými impulzami a na báze HiTUS (High Target Utilization Sputtering) - naprašovania s vysokou využiteľnosťou terča a nezávislým zdrojom plazmy.
PVD technológie sa vyznačujú extrémne vysokým stupňom ionizácie rozprašovaného materiálu, čo umožňuje lepšiu kontrolu výsledných vlastností povlakov, najmä hustoty a následne aj tvrdosti, oteruvzdornosti a adhézie povlaku k podložke.
HiTUS umožňuje nanášanie povlakov na plastové fólie a prípadne aj vysokotvrdých povlakov na ložiskovú oceľ pri teplote pod 200 °C.
Príprava a analýza vzoriek
Zariadenie pre elektrolytické leštenie a leptanie metalografických vzoriek materiálov (napr.
Prístroj je určený pre rezanie, leptanie a povlakovanie vzoriek pomocou iónového lúča. Zariadenie sa používa na prípravu vzoriek pre elektrónovú mikroskópiu napr.
Prečítajte si tiež: Spotreba paliva pri jazde na štvorkolke
Lyofilizácia biomateriálov príp.
Prístroj na prípravu rôznych materiálov vhodných pre vysokorozlišovacie pozorovania v transmisnom aj rastrovacom elektrónovom mikroskope. Povlakovací systém pre SEM, TEM, vysokorozlišovací FE-SEM.
Zariadenie pracuje na princípe bombardovania vzorky Ar iónmi a prípravu elektrónovo transparentnej oblasti. Bombardovanie centrálnej časti vzorky v tvare disku dvomi iónovými delami. Rotácia vzorky od 1 ot./min.
Delenie vzoriek do priemeru max.
Elektrónová mikroskopia
SEM/FIB kombinovaný „dual beam“ mikroskop určený na precízne štruktúrne a chemické analýzy, 2D, 3D zobrazovanie vo vysokom rozlíšení (sekundárne elektróny, spätne odrazené elektróny, 3D energiovo-disperzná analýza, In-lens duo a STEM detektor) a na mikro/nanoobrábanie.
Prečítajte si tiež: Terče na šípky: Porovnanie
Environmentálny rastrovací elektrónový mikroskop s integrovanými analytickými metódami EDX a WDX.
Rastrovacia elektrónová mikroskopia (SEM) poskytuje informácie o mikroštruktúre, morfológii, o chemickom a fázovom zložení skúmaných objektov aj pod 1 mikrometer.
Moderný transmisný elektrónový mikroskop určený na ultra vysoké rozlíšenie so špičkovými analytickými možnosťami. Výkon mikroskopu umožňuje pozorovania až na úrovni atomárneho rozlíšenia vo svetlom aj tmavom poli. Prístrojové vybavenie laboratória umožňuje analýzu materiálov v reálnom aj recipročnom priestore využitím elektrónového žiarenia rôznych energii.
Analýza povrchu a objemu
Spektrometer na operatívny výskum chemickej analýzy povrchu a objemu, ako aj na hĺbkovú profilovú prvkovú analýzu širokého spektra materiálov, od masívnych kovov až po moderné kompozitné, nanokompozitné a biologické materiály a povlaky. Zariadenie umožňuje rýchle, experimentálne jednoduché a ekonomicky nenáročné meranie kvalitatívneho a kvantitatívneho obsahu H, O, Cl, N, Nb, Cu, C, Zr, Ni, Co, P, S, Ti, Fe, Y, Mo, Ca, Al, La, V, Sr, Cr, W, Zn, B, Si, Mn, Hf, F a K v širokom spektre tuhých látok, ich zmien v procesoch oxidácie, korózie, vplyvov vlhkosti, tribologickom a inom opotrebení a pod.
Profilometer pre pozorovanie a meranie členitých povrchov v rozsahu zväčšení 50 - 1500 x s výborným rozlíšením v osi Z vhodný na rýchle nekontaktné meranie drsnosti povrchov (bodová, čiarová, plošná analýza) a priečnych profilov (napr. Farebná CCD kamera s min. 1 mil.
Digitálny svetelný mikroskop Olympus GX 71 (s kamerou), s maximálnym 2000-násobným zväčšením.
Difraktometer Philips X’Pert Pro MPD s ultra rýchlym detektorom X’Celerator ako aj s možnosťou merania pomocou scintilačného detektora. Možnosti merania v Bragg-Brentano geometrii v rôznych variáciách: q-q; w-q. Zariadenie umožňuje analyzovať fázové zloženie (kryštalografické charakteristiky) látok, zastúpenie prítomných fáz v materiáli, veľkosť kryštalitov a makro/mikronapätí (meranie zvyškových napätí metódou sin2y).
DSC 8500 výkon kompenzujúci diferenciálny skenovací kalorimeter najnovšej generácie. S ohľadom na typ materiálu sa stanovuje entalpia zmien, fázové premeny, tepelné kapacity tuhých a kvapalných látok, určujú sa teploty tavenia, sklenia, demagnetizácie, vyparovania, príp.
Simultánny termický analyzátor pre stanovenie TG-DSC/DTA série Jupiter STA 449-F1 od firmy NETZSCH. Rýchlosť ohrevu max.
Mikroskop atómových síl (AFM), alebo silový skenovací mikroskop (SFM) je vysokorozlišovací typ skenovacieho mikroskopu so snímačom s veľkosťou rozlíšenia v nanometrickej oblasti. To umožňuje veľmi presne rekonštruovať 3D reprezentatívny topografický pohľad skúmaného povrchu a skúmať mechanické, elektrické a magnetické vlastnosti materiálov. Vzorky s max.
Meranie hustoty rozdielovou plynovou pyknometriou poskytuje informáciu o skutočnej, absolútnej, skeletálnej a zdanlivej hustote pevných, práškových a kvapalných materiálov. Metodika je využiteľná na analýzu pri syntéze nových materiálov, kompaktizácii práškových materiálov, výrobe cielene pórovitých telies, povlakovaní a pod. Výpočet hustoty s využitím metódy nasycovania plynom má výrazne vyššiu presnosť a reprodukovateľnosť v porovnaní s tradičnou Archimedovou metódou využívajúcou nasycovanie vodou.
Mechanické testovanie
Univerzálny tvrdomer s max. Max. Max. Max.
Inštrumentovaná indentácia / nanoindentácia je technika, kde v priebehu indentačného procesu sa presne zaznamenáva hĺba preniku a zaťažujúca sila počas procesu zaťažovania a odľahčovania.
Zariadenie na mechanické testovanie progresívnych keramických materiálov pri teplotách do 1500 °C pri zaťažení do 1 kN pri teplote do 1500 °C.
Rozsah počiatočných zaťažovacích napätí od cca.
Parametre zariadení
Max. hrúbka vzorky 40 mm, max. šírka vzorky 75 mm.
Elektrónové delo max. Predpätie max.
Max. Procesné plyny - argón, dusík (max.